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冲击试样缺口投影仪操作方法详细介绍

发布时间 2018-06-18 12:29:09

随着国内工业技术的发展,越来越多的行业开始实施金属夏季冲击试验方法。这个标准对样品非常严格。因此,在冲击试样缺口投影仪整个测试过程中,样品的质量将直接影响测试结果,如果样品的质量不合格,测试结果是令人难以置信的,特别是试样间隙的微小变化可能导致测试结果的巨大跳跃,特别是在T。
冲击试样缺口投影仪测试的临界值将使产品合格或丢弃两个不同的连接点,为了保证合格的样品,质量检验是控制的重要手段,目前,光学投影和放大试验是可行的。
XT-50型冲击试样缺口投影仪是根据用户的实际需要和对GB/T29—1994《金属夏比冲击试验方法》中冲击试样缺口的要求而设计的一种光学仪器。在V和U缺口轮廓放大50倍后,将样品投影到投影屏幕上,与投影屏幕上的冲击试样V和U缺口标准样板进行比较,以确定试样是否合格,其优点是简单的歌剧。直觉对比。
冲击试样缺口投影仪工作原理:投影仪光源发射的光通过集中器照射到物体上,然后通过物镜将投影物体放大到投影屏幕。
根据需要,该仪器由单个投影照明。光源通过一系列光学元件投射到工作台上,一系列光学元件通过一系列光学元件清晰地投射到投影仪上,物体被放大两倍放大,两个反射为正。投影屏幕上看到的图案与实际样品的位置一致。

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